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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
產(chǎn)品分類
單晶少子壽命測(cè)試儀 硅單晶非平衡少數(shù)載流子壽命測(cè)量?jī)x
型號(hào)JC03-LT-3
特點(diǎn):
該儀器參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的用于測(cè)量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命；
測(cè)試單晶電阻率范圍：>0.3Ω.cm；
可測(cè)單晶少子壽命范圍：1μS-10000μS；
配備光源類型：紅外光源，波長(zhǎng)：1.09μm；
余輝<1μS；閃光頻率為：20-30次／秒；
前置放大器：放大倍數(shù)約25；
測(cè)量方式：采用對(duì)標(biāo)準(zhǔn)曲線讀數(shù)方式；
單晶少子壽命測(cè)試儀 硅單晶非平衡少數(shù)載流子壽命測(cè)量?jī)x
型號(hào)JC03-LT-3
特點(diǎn):
該儀器參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的用于測(cè)量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命；
測(cè)試單晶電阻率范圍：>0.3Ω.cm；
可測(cè)單晶少子壽命范圍：1μS-10000μS；
配備光源類型：紅外光源，波長(zhǎng)：1.09μm；
余輝<1μS；閃光頻率為：20-30次／秒；
前置放大器：放大倍數(shù)約25；
測(cè)量方式：采用對(duì)標(biāo)準(zhǔn)曲線讀數(shù)方式；
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