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關(guān)鍵詞：液晶高阻四探針測(cè)試儀
四探針?lè)阶铚y(cè)試儀 四探針測(cè)試儀 四探針電阻測(cè)試儀 高阻測(cè)試儀 測(cè)電阻的儀器
產(chǎn)品用途：
覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試,硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻半導(dǎo)體材料,晶圓、太陽(yáng)能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，EMI防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等.
儀器特點(diǎn)：
液晶高阻四探針測(cè)試儀四探針?lè)y(cè)試高阻值材料方阻及電阻率，可以測(cè)試到10^10Ω方阻值，液晶顯示，芯片控制，恒流輸出，四探針雙位測(cè)量、參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。中或英文語(yǔ)言版本.
技術(shù)參數(shù)：
規(guī)格型號(hào) | BX-Y1220A |
1.方塊電阻范圍 | 10^-4～1×10^10Ω/□ |
2.電阻率范圍 | 10^-5～2×10^11Ω-cm |
3.測(cè)試電流范圍 | 10mA ---2pA |
4.電流精度 | ±5% |
5.電阻精度 | ≤15% |
6.顯示讀數(shù) | 液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率 |
7.測(cè)試方式 | 組合雙電測(cè)試方法 |
8.工作電源 | 輸入:AC220V±10%.50Hz功耗：<30W |
9.誤差 | ≤15% |
10.選購(gòu)功能 | 選購(gòu)1.pc軟件；選購(gòu)2.方形探頭；選購(gòu)3.直線形探頭；選購(gòu)4.測(cè)試平臺(tái) |
11.測(cè)試探頭 | 探針間距選購(gòu)：2mm；3mm兩種規(guī)格;探針材質(zhì)選購(gòu)：碳化鎢針、鍍金磷銅半球形針 |
當(dāng)前位置：
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